硬盤的邏輯壞道是如何產生的

硬盤壞道分兩種：物理壞道和邏輯壞道。物理壞道就是硬盤在使用過程中，由於磕碰、温度過高、硬盤老化等等原因，使盤片表面發生損壞導致的壞道；邏輯壞道則是硬盤在寫入數據時受到意外干擾或者程序的誤操作，導致硬盤磁道上的ECC校驗信息和磁道上的數據對不上號導致的。針對邏輯壞道可以利用Windows自帶的Scandisk命令進行修復，以保護硬盤中的數據。